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Prüfkartendesign

Wir sind auf Probe Card Design für Halbleiterwafertests spezialisiert und bieten Komplettservices von Design, Simulation und Produktion bis hin zum Test. Unsere Lösungen gewährleisten präzise und zuverlässige Leistung, um den höchsten Industriestandards gerecht zu werden.

Bieten Sie verschiedene Arten von Prüfkarten an

Cantilever-Sondenkarte

Unsere Cantilever-Prüfkarten mit Nadeln aus ReW (Rhenium-Wolfram) oder P7-Legierung bieten hervorragende Flexibilität und eignen sich perfekt zum Testen verschiedener Chiptypen.

RF-Sondenkarte

Unsere RF-Prüfkarten bieten umfassende Optionen mit Serien für niedrige bis mittlere Frequenzen und hohe Frequenzen, die jeweils DC bis 8 GHz und DC bis 20 GHz abdecken.

CIS-Prüfkarten

Maßgeschneidert für Hochgeschwindigkeitstests von CMOS-Bildsensoren in Digitalkameras und Smartphones. Mit weitem Temperaturbereich und integriertem Keramikkopf für Stabilität.

LCD-Testkarten

Unsere LCD-Prüfkarten unterstützen Hochgeschwindigkeitstests von bis zu 2.5 Gbit/s, funktionieren in einem weiten Temperaturbereich (-40 °C bis 140 °C) und bieten Platz für bis zu 4000 Pins pro Karte.

Logische Prüfkarten

Unsere Logic Probe Cards sind für das effiziente Testen einer breiten Palette von SOC-, LOGIC- und MCU-ICs konzipiert und unterstützen hohe gängige Testzahlen und bis zu 4000 Pins pro Karte.

Flash Probe-Karten

Unsere Flash Probe Cards sind für das effiziente Testen von FLASH-Speicherchips optimiert, die in USB-Laufwerken und SSDs verwendet werden. Mit Unterstützung für bis zu 5800 Pins pro Karte und hohen gemeinsamen Testzahlen von bis zu 512 Sites.

Vertikale Sondenkarte

Unsere vertikalen Prüfkarten verfügen über robuste PCB-, MLO- und Kopfstrukturen und verwenden vertikale Sonden für präzisen Kontakt mit empfindlichen Pads.

MEMS-Sondenkarte

Hohe Präzision durch Einsatz mikroelektromechanischer Systeme (MEMS), ideal für Wafertests von visuellen Erkennungschips, Flash-Speicherchips und RAM-Chips (Random Access Memory).

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Prüfkartenkatalog

Ihr Partner für fortschrittliche Sondentechnologie

Breites Spektrum an Branchen

Wir bieten flexible Dünnschichtsondenlösungen mit schmalem Rastermaß für zahlreiche Branchen, darunter Optoelektronik, Medizin, Automobilbau und Telekommunikation.

Qualitätskontrolle

Von der sorgfältigen Entwicklung bis hin zu strengen Testprotokollen erfüllen unsere Prüfkarten die höchsten Standards hinsichtlich Zuverlässigkeit und Leistung.

Technische Fähigkeit

Wir liefern für Anwendungen mit hoher Pin-Anzahl optimierte Prüfkarten, die in unterschiedlichen Halbleitertestumgebungen eine außergewöhnliche Leistung und Langlebigkeit gewährleisten.

Advanced Equipment

Wir sind auf die umfassende Entwicklung und Herstellung von Geräten, Testwerkzeugen und Wartungslösungen für Prüfkartenproduktionslinien spezialisiert und bieten hochpräzise, ​​benutzerfreundliche Geräte, die auf verschiedene Prüfkartengrößen zugeschnitten sind.

Benutzerdefinierte Sonde

Unsere kundenspezifischen Sondenlösungen erfüllen unterschiedliche Testanforderungen und bieten maßgeschneiderte Designs, die präzise Kompatibilität und optimale Leistung in verschiedenen Halbleiteranwendungen gewährleisten.

Schneller Produktionszyklus

Mithilfe von 3D-Modellierungs- und numerischer Analyse-Designsoftware bewerten wir jedes Design, um die Lieferzyklen unserer Kunden zu beschleunigen und bieten beispiellose Servicefunktionen, die uns von der Konkurrenz abheben.

Unser Hauptservice

PCB-Trägerplatinendesign

Unser PCB-Trägerplatinendesign bietet eine strukturierte und vielseitige Schnittstelle zum Verbinden mehrerer Prüfkarten mit dem zu testenden Gerät. Es unterstützt verschiedene Prüfkarten-PCB-, CP PIB- und FT DIB-Designs, ermöglicht eine Hochgeschwindigkeitsdatenübertragung und eignet sich für eine Vielzahl von Substratmaterialien, um spezifische Testanforderungen präzise und effizient zu erfüllen.

PIB/DIB-PCB-Design

Entwurf von Leiterplatten für die Bereiche Control Panel (PIB) und Film Transistor Array (DIB) des LCD-Tests.

Kundenspezifisches PCB-Design

  • Relaisplatinen: Leiterplatten mit einer bestimmten Anzahl von Relais (z. B. 8, 16 usw.) für Schaltzwecke.
  • Sicherungsplatinen: Leiterplatten mit einer bestimmten Anzahl von Sicherungsanschlüssen (128 IO).
  • Hochleistungsleiterplatten: Leiterplatten, die für hohe Spannungen (3000 V) und hohe Ströme (400 A) ausgelegt sind.

ATE Test Board Katalog - Probe Card Universal PCBs

J750 Prüfkarte - Universelle Leiterplatte (V01)

J750HD-Prüfkarte – Universal-Leiterplatte

J750HD-Prüfkarte – Universal-Leiterplatte

Advantest 93K 11.5 Zoll Universal-Leiterplatte

Advantest 93K 9.5-Zoll-Universal-Leiterplatte

C3380P_(32X4) Universalplatine (V01)

C3380P_512 Universal-Leiterplatte vom Typ J

C3380D_256CH Prüfkarte Universal PC1

C3380D_256CH Universal-Leiterplatte

Universal-Leiterplatte vom Typ C3360_G

YTEC S100_7D Universalplatine (V01)

V50 (YTEC S50) Universalplatine (V01)

T6373 ND3/4C Universalplatine (V01)

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