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MEMS-Sondenkarte

MEMS-Prüfkarten (Micro-Electro-Mechanical Systems) spielen eine Schlüsselrolle bei modernen Halbleitertests, da sie durch miniaturisierte elektromechanische Systeme präzise Testkontakte bereitstellen, um eine genaue Bewertung der Chipleistung zu gewährleisten. Unsere MEMS-Prüfkarten kombinieren fortschrittliche Mikro-Nano-Bearbeitungstechnologie mit präzisem elektrischem Design, um äußerst zuverlässige und genaue Lösungen für eine breite Palette von Chiptestanforderungen bereitzustellen.

Fortschrittliche MEMS-Prüfkarten für Wafertests

CIS-Wafer-Test-MEMS-Prüfkarte

Unsere CIS (CMOS Image Sensor) Wafer Testing MEMS Probe Card verwendet fortschrittliche 2D-MEMS-Technologie zum Testen von CIS-Produkten. Tausende MEMS-Sonden werden per Laser auf ein Keramiksubstrat geschweißt, wodurch eine außergewöhnlich dichte Sondenverteilung mit minimalem manuellen Eingriff ermöglicht wird.

DRAM-Wafer-Test MEMS-Prüfkarte

Unsere mit MEMSFLEX-Technologie optimierte DRAM-Wafer-Test-MEMS-Testkarte erfüllt die Anforderungen beim Testen dieser neuen hochleistungsfähigen DRAM-Geräte mit hoher Dichte. Sie steigert die Effizienz und senkt die Gesamtkosten des DRAM-Tests und gewährleistet eine zuverlässige Leistung bei der Bewertung der neuesten Fortschritte in der Speichertechnologie.

Funktionen der MEMS-Prüfkarte

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